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介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀低頻

介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀低頻

簡要描述:介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀低頻介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

更新時間:2024-07-13

產(chǎn)品型號:GDAT-S

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:957

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價格區(qū)間2萬-5萬
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,農(nóng)業(yè),文體,建材

介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀低頻列介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀低頻

設(shè)備中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計算得到。

1 特點:                            
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1~105

2 主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 ε和D性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

2.1.3 ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% ,  D:±5%±0.0001。

2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號

WY2817A

WY2818A/B/C

工作頻率范圍

50Hz~100kHz(10個頻點)

精度:±0.05%

20Hz~1MHz/2MHz/5MHz

數(shù)字合成,精度:±0.02%

電容測量范圍

0.0001pF~99999μF

四位數(shù)顯

0.00001pF~9.99999F

六位數(shù)顯

電容測量基本誤差

±0.05%

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

2.3 電常數(shù)測試裝置(含保護電極)

2.3.1 平板電容器極片尺寸:Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合

2.3.4加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以完成200℃控溫精度l℃加熱測試。

2.4 介質(zhì)材料測試裝置提供四種不同直徑測試電極,

能對直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣

可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和

非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率:10μm

2.4.2 耐壓:±42Vp(AC+DC)

2.4.3 電纜長度設(shè)置:1m

2.4.4 使用頻率:30MHz 

2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購件):
  在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。

用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

2.6介電常數(shù)測試儀配置

 

配置類型

普及型

標(biāo)準(zhǔn)型

精密型

電橋工作頻率范圍

100Hz~100kHz

精度:±0.02%

20Hz~5MHz

精度:±0.02%

20Hz~5MHz

精度:±0.02%

配置型號

WY2817A數(shù)字電橋

+WY916B測試裝置

WY2818系列 阻抗分析儀

+WY916B三電極測試裝置

WY2818系列 阻抗分析儀

+16451B介質(zhì)材料測試裝置

(能適宜各種樣品)

介電常數(shù)范圍

1-1000

精度:±5%

1-1000

精度:±2%

1-100000

精度:±2%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

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