硅膠擊穿試驗儀輸入電壓： 交流 220 V  輸出電壓： 交流 0--50 KV ; 直流 0—50 KV  電器容量： 10KVA

高壓分級： 0-10KV，0--50KV  升壓速率：0.1-5.0kv （備注：滿足標(biāo)準要求并可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率）試驗方式： 直流試驗：1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗 交流試驗：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗   試驗介質(zhì)：空氣，試驗油

硅膠擊穿試驗儀可以隨時調(diào)取當(dāng)前及歷史試驗數(shù)據(jù)進行查看，編輯及修改實驗結(jié)果。試驗過程中可以隨時修改試驗條件及存儲路徑及自動存儲試驗結(jié)果。試驗過程中，可隨時通過軟件決定本次試驗是否有效，方便篩選試驗結(jié)果?？蓪浖O(shè)置密碼，生成密碼保護，做到專機專人操作，避免無關(guān)人員誤操作。可對試驗結(jié)果編輯修改后打印，方便操作 更加人性化。可對一組試驗中曲線數(shù)據(jù)的試驗結(jié)果是否進行人為選定 。本儀器采用*無觸點原件勻速調(diào)壓方式，淘汰同類產(chǎn)品中機械傳動升壓方式。主要適用于固體絕緣材料，同時可測得 液體、粉體和不規(guī)則物體的擊穿強度。自動整形 測試精度與固體一樣。同時測得工頻交流電壓與直流電壓的擊穿強度和耐壓強度的測試 可設(shè)定梯度耐壓的試驗 使梯度時間自由調(diào)整。

本儀器由pc控制，通過我公司自主研發(fā)的全新智能數(shù)字精密嵌入式西門子中央單元cpu系統(tǒng)與上位機軟件控制兩部分來完成，

通過pc USB 串口獲得數(shù)據(jù)傳送數(shù)據(jù)可高達 3M/S是RS232串口*的 讓上位機與下位機通訊無延遲使升壓速率真正做到勻速、準確，并能夠準確測出漏電電流的數(shù)據(jù)，電流實時采集。

可實時繪制試驗曲線，顯示試驗數(shù)據(jù)，判斷準確，并可保存，分析，打印，修改試驗數(shù)據(jù)。

并且提取試驗數(shù)據(jù)分色對比。人性化明顯

在固體絕緣和空氣的交界面上的沿面放電發(fā)展成貫穿性的空氣擊穿稱閃絡(luò)。在一定的試驗條件下，使外絕緣表面剛好發(fā)生閃絡(luò)所需的電壓值稱臨界閃絡(luò)強度。有時閃絡(luò)強度用平均閃絡(luò)場強來表示。它是指在規(guī)定的試驗條件下，用發(fā)生閃絡(luò)的電壓除以沿兩種介質(zhì)交界面的泄漏距離或兩電極間的垂直距離所得的商。試驗條件分為干燥狀態(tài)、淋雨狀態(tài)和臟污狀態(tài)等幾類。在這幾種狀態(tài)下得到的臨界閃絡(luò)強度分別簡稱為干閃強度、濕閃強度和污閃強度。由于介質(zhì)分界面上的電壓分布不均勻，沿面閃絡(luò)電壓比氣體或固體單獨存在時的擊穿電壓都低。淋雨狀態(tài)比干燥狀態(tài)時的閃絡(luò)電壓低，在潮濕臟污的條件下沿面閃絡(luò)電壓會更明顯降低。

人員管理：可添加多人同時使用此軟件 不同人員設(shè)定不同密碼 交叉使用互不干擾 （如一人使用可刪除設(shè)定密碼  直接進入軟件）

參數(shù)管理：

高壓保護可選、

耐壓時間可選、

梯度步進可選 、

漏電流和過壓可選、

靈敏的漏電壓可選、

漏電流可選 、

升壓速度可自由設(shè)定（0-50kv 無極自由）

試驗結(jié)果可選

異地操作選定 、

人機分離選定等等

結(jié)果調(diào)?。?/span>

試驗結(jié)果保存調(diào)取 、

人員選定調(diào)取、

試驗結(jié)果可根據(jù)客戶要求操作整理 、

支持5次以上彩線對比、

自動整取添加試驗數(shù)據(jù)。

定義：

電氣擊穿：式樣在承受電應(yīng)力作用時其絕緣性能嚴重損失，由此引起試驗回路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動作。

擊穿通常是由式樣和電極周圍的氣體或者液體煤質(zhì)中的局部放電引起，并使得較小電極或者等徑兩電極邊緣的式樣遭到破壞。

閃絡(luò)：式樣和電極周圍的氣體或者液體煤質(zhì)承受的電應(yīng)力作用時，其絕緣性能損失，由此引起的試驗回路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動作.

碳化通道的出現(xiàn)或者穿透式樣的擊穿可用于區(qū)別試驗是擊穿還是閃絡(luò)。

擊穿電壓：在連續(xù)升壓試驗中在規(guī)定的試驗條件下，式樣發(fā)生擊穿時的電壓。

式樣承受的電壓在該電壓水平下整個時間內(nèi)式樣不發(fā)生擊穿。

電氣強度：在規(guī)定的試驗條件下，擊穿電壓與施加電壓的兩電極之間的距離商。

得到的電氣強度試驗結(jié)果。能用來檢測由于工藝的變更，老化條件或者其他的制造環(huán)境情況引起的性能相對于正常的值的變化或者偏離，而很少能用于直接確定在實際應(yīng)用中的絕緣材料的性能狀態(tài)。