絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀試驗軟件：
1、試驗軟件是我公司研發(fā)的功能強大、操作簡單、顯示直觀的試驗軟件系統(tǒng)；
2、采用計算機控制通過人機對話方式，完成對絕緣介質(zhì)工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗；
3、本儀器在試驗過程中可對升壓擊穿過程繪制實時曲線，每次試驗的升壓曲線都由不同顏色構(gòu)成，試驗結(jié)束后可疊加對比材料的試驗數(shù)據(jù)重復性；
4、可以隨時調(diào)取當前及歷史試驗數(shù)據(jù)進行查看，編輯及修改參數(shù)；
5、試驗過程中可以隨時修改試驗條件及存儲路徑及自動存儲試驗結(jié)果；
6、試驗過程中，可隨時通過軟件決定本次試驗是否有效，方便篩選試驗結(jié)果；
7、可設(shè)置操作口令，做到專機專人操作，避免無關(guān)人員誤操作；
8、試驗報告格式靈活可變，適用于不同用戶的不同需求；
9、可對一組試驗中曲線數(shù)據(jù)的有效與否進行人為選定；
10、試驗結(jié)果數(shù)據(jù)可導入EXECL,WORD文檔編輯；
11、過電流保護裝置有足夠的靈敏度，能夠保證試樣擊穿時在0.1S內(nèi)切斷電源；
12、儀器運行的持久性: 儀器可連續(xù)運行使用，不需為保護儀器而定期停機；
注：其它未盡事宜請，我們將竭誠為您服務(wù)。

絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀安全說明：

1、設(shè)備要安裝單獨的保護地線。接保護地線，主要是減少試樣擊穿時對周圍產(chǎn)生的較強的電磁干擾。也可避免控制計算機失控。

2、直流試驗放電報警功能:在設(shè)備做完直流試驗時,當開啟試驗門時設(shè)備會自動報警,直至使用設(shè)備上的放電裝置放電后報警會自動取消。

3、試驗放電裝置，隨主機為一體化，改進了以往單獨配備一根放電桿的功能。

4、該試驗設(shè)備的電路設(shè)有多項保護措施，主要有：過流保護、失壓保護、漏電保護、短路保護、直流試驗放電報警等。

安全保護：

（1）門限位保護：不關(guān)門，即使通電點實驗開始，設(shè)備無任何反應(yīng)，軟件有:安全門未關(guān)閉提示。

（2）電壓歸零保護：如果在實驗過程中，突然斷電，下次開機后，會自動回到零位，保證初始電壓為在零位。

（3）終止電壓保護：可以通過軟件設(shè)定終止電壓，保證在升壓過程中如果出現(xiàn)異常升到的電壓后，自動終止并歸零。

（4）高壓機械限位：如果軟件系統(tǒng)失去控制，電壓繼續(xù)往上升，到高壓限位后自動歸零如果在擊穿后未判停，通過過流保護器采集數(shù)據(jù)保證電壓自動歸零有高壓指示燈，通過觀察指示燈的狀態(tài)來判斷實在升壓還是在零位如果長時間做實驗，為保證設(shè)備的良好運行，設(shè)備留有變壓器排氣口，保證變壓器的良好運行，增長使用壽命如果在實驗中，試樣有異味或者出現(xiàn)燃燒和冒煙現(xiàn)象，可以通過排風系統(tǒng)進行排除。

（5）獨立接地保護

（6）短路保護

（7）軟件誤操作保護

（8）漏電保護

（9）實驗結(jié)束放電保護引起絕緣老化導致絕緣擊穿的原因可歸結(jié)為：電的作用、bai熱的作用、化學作用、機械力作用、濕度的影響等。
電老化 電力設(shè)備絕緣在運行過程中會受到工作電壓和的作用。在長期工作電壓下，絕緣若發(fā)生，將會使絕緣材料發(fā)生局部損壞（見）。絕緣結(jié)構(gòu)的過大，則在長期工作電壓作用下，絕緣將因過熱而損壞。在雷電過電壓和操作過電壓的作用下，絕緣中可能發(fā)生局部損壞。以后再承受過電壓作用時，損壞處逐漸擴大，終導致*擊穿。
熱老化 電力設(shè)備絕緣在運行過程中因周圍環(huán)境溫度過高，或因電力設(shè)備本身發(fā)熱而導致絕緣溫度升高。在高溫作用下，絕緣的機械強度下降，結(jié)構(gòu)變形，因氧化、聚合而導致材料喪失彈性，或因材料裂解而造成絕緣擊穿，電壓下降。戶外電力設(shè)備會因熱脹冷縮而使密封破壞，水分侵入絕緣；或因瓷絕緣件與金屬件的熱膨脹系數(shù)不同，在溫度劇烈變化時，瓷絕緣件破裂。
化學老化 絕緣材料在水分、酸、臭氧、氮的氧化物等的作用下，物質(zhì)結(jié)構(gòu)和化學性能會改變，以致降低電氣和機械性能。例如變壓器油（見）在空氣中會因氧化產(chǎn)生有機酸，使tg[kg2]（見）增加；同時還會形成固體沉淀物,堵塞油道，影響對流散熱,使絕緣的溫度上升而使絕緣性能下降。
機械力老化 在機械負荷、自重、振動、撞擊和短路電流電動力的作用下,絕緣會破壞,機械強度下降。例如槽口處的絕緣由于長期振動、高溫作用，很容易開裂分層，終損壞。
濕度老化 環(huán)境的相對濕度對絕緣材料耐受表面放電的性能有影響。如果水分侵入絕緣內(nèi)部，將會造成介質(zhì)電損耗增加或擊穿電壓下降。

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