薄膜擊穿電壓檢測儀整機(jī)組成⒈升壓部件：由調(diào)壓器和升壓器組成升壓部分。⒉驅(qū)動部件：由步進(jìn)電機(jī)均勻調(diào)節(jié)升壓變壓器。⒊檢測部件：由集成電路組成的測量電路。⒋計(jì)算機(jī)測控系統(tǒng)。

薄膜擊穿電壓檢測儀各輸入框內(nèi)添加說明

a. 試驗(yàn)單位：即作試驗(yàn)的單位或者機(jī)構(gòu)。

b. 送試單位：即試樣的提供單位或者機(jī)構(gòu)。

c. 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：即試驗(yàn)方法和條件所遵循的標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)備執(zhí)行的是ASTM D149-97 標(biāo)準(zhǔn)。

d. 試驗(yàn)方法：即試樣的試驗(yàn)過程和結(jié)果的處理，本設(shè)備執(zhí)行的是ASTM D149-97 標(biāo)準(zhǔn)，有三種試驗(yàn)方法為別稱之為：

（I）Short Time：試樣電壓從零開始以選擇的升壓速率勻速升壓，直到試樣擊穿為止，擊穿電壓為擊穿瞬間的電壓值。

（II）Step by Step：試樣電壓從零快速升壓到達(dá)初始電壓，此間不記錄曲線，到達(dá)初始電壓后以梯度時間為時間長度，穩(wěn)定電壓，梯度時間結(jié)束后繼續(xù)以選定的升壓速率升壓，達(dá)到下一個梯度電壓值再穩(wěn)定電壓，如此過程直到試樣擊穿。對于擊穿電壓的確定分為兩種情況，如果試樣擊穿發(fā)生在升壓的過程中，那么擊穿電壓為前一個梯度的電壓；如果擊穿發(fā)生在梯度時間內(nèi)，則擊穿電壓為擊穿瞬間的電壓。

（III）Slow Rate：試樣電壓從零快速升壓到達(dá)初始電壓，此間不記錄曲線，到達(dá)初始電壓后以選定的升壓速率升壓直到試樣擊穿，擊穿電壓為擊穿瞬間的電壓值。

輸入電壓： 交流 220 V

輸出電壓： 交流/直流 0--100kv 

電器容量： 10KVA

高壓分級：0-100kv

升壓速率：0.1-5kv（隨意）

試驗(yàn)方式：交/直流試驗(yàn)：1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

試驗(yàn)介質(zhì)：空氣/絕緣油

電壓試驗(yàn)精度： ≤1%

電源：220v±10%的單相交流電壓和50Hz±1%的頻率

升壓裝置：采用*無觸點(diǎn)原件勻速升壓淘汰前款機(jī)械調(diào)壓

耐壓時間：0-7H保持相對電壓 （軟件設(shè)定）

漏電流選擇0-100MA

耐壓式樣：固體；液體。

控制方式：無線藍(lán)牙安全控制

通訊方式：支持 232/USB/亞太區(qū)域網(wǎng)絡(luò)端口

擊穿判斷方式：高電壓判斷、漏電流判斷。

檢測方式：自動巡航檢測

e. 環(huán)境濕度：即為實(shí)驗(yàn)室的濕度。

f. 環(huán)境溫度：即實(shí)驗(yàn)室的溫度。

g. 試驗(yàn)介質(zhì)：即試驗(yàn)中使用變壓器油作為介質(zhì)浸沒試樣，減少試樣閃絡(luò)等影響試驗(yàn)結(jié)果。

h. 試驗(yàn)人員：即試驗(yàn)的操作者。

i. 電極形狀： 即接觸試樣表面的電極形狀，本設(shè)備使用圓形電極。

j. 電極尺寸： 即本設(shè)備使用圓形φ6.3mm重50g的銅電極。

k. 使用量程：即設(shè)備分為高壓和低壓兩檔量程高壓為0～50kV,低壓為0～10kV。

l. 峰降電壓： 即試樣擊穿時試樣兩邊的電壓會產(chǎn)生一個由最高的峰值突降到一個小值的現(xiàn)象，二者的差值稱之為峰降電壓。隨量程的不同和試樣的不同會有區(qū)別。一般選用1.0kV作為一個比較合適的值使用，當(dāng)然不排除有特殊的情況。

m. 初始電壓：在Step by Step和Slow Rate兩種試驗(yàn)方法中需要到達(dá)一個初始電壓的過程，會使用到此參數(shù)。Short Time方法不會使用此參數(shù)。

n. 梯度電壓：在Step by Step試驗(yàn)方法中，穩(wěn)定電壓=初始電壓+梯度電壓×（N-1），N為梯度的次數(shù)。

o. 材料名稱：即制成試樣的材料。

p. 終止電壓：即是試驗(yàn)的一個保護(hù)措施，防止由于參數(shù)設(shè)置不當(dāng)引起的無限升壓，實(shí)際采集到的電壓值大于此參數(shù)時，系統(tǒng)自動停止，電機(jī)返回初始位置，同時他也是曲線坐標(biāo)系的一個參數(shù)。

q. 梯度時間：即在Step by Step試驗(yàn)方法中，穩(wěn)定電壓的時間段長度，以秒為單位。

r. 試樣制備：即對試樣的修整處理，或特殊的環(huán)境條件處理。

s. 存儲路徑：即試驗(yàn)數(shù)據(jù)在磁盤中的保存位置，可以手動選擇路徑及對文件命名，若不選擇則系統(tǒng)會對數(shù)據(jù)自動命名保存到默認(rèn)位置。按選擇路徑按鈕即可手動選擇路徑和文件命名。

試樣擊穿后，電機(jī)自動返車回到初始位置計(jì)算機(jī)屏幕上出現(xiàn)對話框，“對試驗(yàn)數(shù)據(jù)是否滿意"的判斷，點(diǎn)擊“是"，則進(jìn)一步詢問“是否要做下一個試樣"選擇“是"則繼續(xù)下一個試樣，點(diǎn)擊“否"則提示保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)。打開“門"取出試樣，整個試驗(yàn)完成。