固體電氣絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀輸入電壓 220V 50H
電壓測(cè)量范圍 交/直流 0-50KV
電器容量（功率） 3KVA
過流保護(hù) 1-30mA 可由計(jì)算機(jī)軟件自由設(shè)定
升壓速率 0.001KV/S-3KV/S（無(wú)極調(diào)壓）
可試驗(yàn)方式 交/直流試驗(yàn)：1、勻速升壓 2、階梯升壓 3、耐壓試驗(yàn)
交直流電壓測(cè)量誤差 1%≤
耐壓時(shí)間 0～4H(德標(biāo) 8H 或 15H)或任意設(shè)定

固體電氣絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

儀器依據(jù)以下標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)擊穿電壓部分的要求制造；

1、GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法》；

2、GB1408.2-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第 2 部分：對(duì)應(yīng)用直流電壓試驗(yàn)的附加要求》；

3、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》；

4、ASTM D149《固體電絕緣材料工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法》；

5、GB/T3333：電纜紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法；

6、GB/T12656：電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法；

7、HG/T3330：絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度測(cè)定法

儀器功能：

1、試驗(yàn)過程中可動(dòng)態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線，試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對(duì)比；

2、可對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯修改，靈活適用；

3、試驗(yàn)條件及測(cè)試結(jié)果等數(shù)據(jù)可自動(dòng)存儲(chǔ)；

4、試驗(yàn)報(bào)告格式靈活可變，適用于不同用戶的不同需求；

5、可對(duì)一組試驗(yàn)中曲線數(shù)據(jù)的與否進(jìn)行人為選定；

6、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)可導(dǎo)入 EXECL,WORD 文檔編輯；

7、過電流保護(hù)裝置有足夠的靈敏度，能夠試樣擊穿時(shí)在 0.1S 內(nèi)切斷電源；

8、儀器運(yùn)行的持久性，儀器可連續(xù)運(yùn)行使用，不需為保護(hù)儀器而定期停機(jī)

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀2. 引用文件

2.1ASTM標(biāo)準(zhǔn)：4

D374 固體電絕緣體厚度的測(cè)試方法（2013年取消）5

D618 試驗(yàn)用調(diào)節(jié)塑料操作規(guī)程

D877 用圓盤電極測(cè)定電絕緣液體介電擊穿電壓的試驗(yàn)方法

D1711 電絕緣相關(guān)術(shù)語(yǔ)

D2413 用液體介質(zhì)浸漬的絕緣紙和紙板的制備規(guī)程

D3151 在電氣應(yīng)力下固體電氣絕緣材料的熱失效的測(cè)試方法（2007年取消）5

D3487 在電設(shè)備中使用的礦物絕緣油的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

D5423 強(qiáng)制對(duì)流試驗(yàn)爐中的電氣絕緣評(píng)估規(guī)范適用材料：橡膠、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、樹脂、電線電纜、絕緣油等絕緣材料

　　測(cè)試項(xiàng)目：擊穿電壓測(cè)試、介電強(qiáng)度測(cè)試、電氣強(qiáng)度測(cè)試、耐電壓擊穿強(qiáng)度測(cè)試等

2.2IEC標(biāo)準(zhǔn)

出版物243-1固體絕緣材料介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法—第1部分：在工業(yè)頻率下測(cè)試6

2.3ANSI標(biāo)準(zhǔn)

C68.1 絕緣測(cè)試技術(shù)，IEEE標(biāo)準(zhǔn)號(hào)47

1本試驗(yàn)方法在ASTM委員會(huì)D09（電子和電氣絕緣材料）的管轄范圍內(nèi)，D09.12分會(huì)（電學(xué)試驗(yàn)）負(fù)直接責(zé)任。

本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn)，2013年4月出版。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn)。DOI:10.1520/D0149-09R13。

2Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量," 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。

3Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿," 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。

4對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)查看ASTMｏｒｇ，或聯(lián)系A(chǔ)STM客戶中心，郵件：對(duì)于ASTM標(biāo)準(zhǔn)卷冊(cè)的信息，參看ASTM網(wǎng)站的標(biāo)準(zhǔn)文件摘錄頁(yè)。

5該歷史標(biāo)準(zhǔn)的最新批準(zhǔn)版本

6可從國(guó)際電工學(xué)協(xié)會(huì)（IEC）獲得，3 rue deVarembé, Case postale 131, CH-1211, Geneva 20, Switzerland, 

7可從美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)(ANSI)獲得，地址：25 W. 43rd St.,4th Floor, New York, NY 10036

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀3. 術(shù)語(yǔ)

3.1定義：

3.1.1介質(zhì)擊穿電壓（電擊穿電壓），名詞：使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差（參見附錄X1）。

3.1.1.1討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱“擊穿電壓"。

3.1.2介電失效（在測(cè)試中），名詞：指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下，能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。

3.1.3絕緣強(qiáng)度，名詞：指在測(cè)試的特定條件下，使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。

3.1.4電氣強(qiáng)度，名詞：參見絕緣強(qiáng)度。

3.1.4.1討論一在國(guó)際上，“電氣強(qiáng)度"更常用些。

3.1.5閃絡(luò)，名詞：指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周圍介質(zhì)的破壞性電火花，不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生損害。

3.1.6其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語(yǔ)的定義，參見術(shù)語(yǔ)D1711。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀4. 測(cè)試方法概要

4.1在工業(yè)電頻率條件下（如無(wú)特殊說(shuō)明，則為60Hz），對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種，將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開始，升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止。

4.2大多數(shù)情況下，在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極，以進(jìn)行電壓測(cè)試。測(cè)試樣品可以是模制的，也可以是鑄造的，或是從扁平薄板或厚板上切割下來(lái)的。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀，或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀5. 意義和使用

5.1電絕緣的絕緣強(qiáng)度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能。在很多情況下，材料的絕緣強(qiáng)度是所使用裝置設(shè)計(jì)的決定性因素。

5.2本方法中介紹的測(cè)試，將用于提供部分所需的信息，以判斷材料在一定應(yīng)用條件下的適用性；當(dāng)然也能用于檢測(cè)由于流程的變化，老化的程度，或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測(cè)試方法可以有效地應(yīng)用于流程控制，驗(yàn)證或研究測(cè)試。

5.3本測(cè)試方法所獲得的結(jié)果，很少能直接用于實(shí)際使用材料介電性能的判斷。在大多數(shù)情況下，還需要對(duì)其他功能測(cè)試和/或?qū)Σ牧蠝y(cè)試所獲得的結(jié)果進(jìn)行比較，以估計(jì)出它們對(duì)特定材料的影響，才能進(jìn)行評(píng)價(jià)。

5.4在第12章中將具體說(shuō)明三種電壓使用方法。方法A，快速測(cè)試；方法B，逐步測(cè)試；方法C，慢速測(cè)試。方法A常用于質(zhì)量控制測(cè)試。較費(fèi)時(shí)的方法B和C通常給出較低的結(jié)果，但在對(duì)不同材料進(jìn)行相互比較時(shí)，它們所給出的結(jié)果更有說(shuō)服力。如果可以安裝電動(dòng)電壓控制器，那么慢速測(cè)試法將比逐步測(cè)試法更簡(jiǎn)單，也更常用。方法B和C所獲得的結(jié)果可以相互比較。

5.5詳細(xì)說(shuō)明本測(cè)試法的文件如下：

5.5.1電壓應(yīng)用的方法。

5.5.2如果是慢速測(cè)試法，應(yīng)說(shuō)明電壓的增速。

5.5.3測(cè)試樣品的選擇，準(zhǔn)備和調(diào)整。

5.5.4測(cè)試時(shí)的環(huán)境介質(zhì)和溫度。

5.5.5電極。

5.5.6在可能的情況下，電流傳感元件失效的標(biāo)準(zhǔn)，以及，

5.5.7以及任何與推薦流程的偏差。

5.6如果5.5所列要求沒有出現(xiàn)在說(shuō)明文件中，可按以下推薦進(jìn)行處理。

5.7如果5.5所列的條目沒有詳細(xì)說(shuō)明，那么就是在參考就不充分條件下進(jìn)行測(cè)試，則測(cè)試不符合本方法的要求。如果5.5所列的條目沒有獲得嚴(yán)格控制，那么就無(wú)法實(shí)現(xiàn)15.2和15.3所陳述的精度。

5.8電流傳感元件失效標(biāo)準(zhǔn)（電流設(shè)定和反應(yīng)時(shí)間）的變化將明顯影響測(cè)試結(jié)果。

5.9附錄X1包含了對(duì)絕緣強(qiáng)度測(cè)試顯著性更為復(fù)雜的討論。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀6. 裝置

6.1電壓源—由變化正弦低壓電源通過升壓變壓器提供測(cè)試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應(yīng)具有以下功能：

6.1.1電壓峰值與電壓有效值的比率應(yīng)等于(1.34到1.48)，對(duì)于電路中的測(cè)試樣品，所有的電壓都應(yīng)大于擊穿電壓的50%。

6.1.2電壓應(yīng)具有滿足維持到擊穿電壓的能力。對(duì)于大多數(shù)的材料來(lái)說(shuō)，使用與表1所示電極相似的電極，輸出電流強(qiáng)度為40mA就可以了。對(duì)于更復(fù)雜的電極結(jié)構(gòu)，或是對(duì)于高損耗測(cè)試材料，則需要更高的電流。對(duì)于大多數(shù)測(cè)試來(lái)說(shuō)，電源需要在測(cè)試低電容的0.5kVA，10kV到5kVA，100kV的范圍內(nèi)變化。

表1 用于不同絕緣材料絕緣強(qiáng)度測(cè)試的典型電極A