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鍍膜介電常數(shù)測(cè)定儀

鍍膜介電常數(shù)測(cè)定儀

簡(jiǎn)要描述:鍍膜介電常數(shù)測(cè)定儀在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃, 氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購,以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

更新時(shí)間:2024-07-18

產(chǎn)品型號(hào):GDAT-A

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:932

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價(jià)格區(qū)間2萬-5萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車,電氣

鍍膜介電常數(shù)測(cè)定儀觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 :電流模式(內(nèi)阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)

工作頻率范圍:20Hz~2MHz 數(shù)字合成,

精度:±0.02%

電容測(cè)量范圍:0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯

電容測(cè)量基本誤差:±0.05%

損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測(cè)試裝置(含保護(hù)電極): 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極,能對(duì)直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

微分頭分辨率:10μm

最高耐壓:±42Vp(AC+DC)

電纜長(zhǎng)度設(shè)置:1m 

鍍膜介電常數(shù)測(cè)定儀介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。     

列介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。

設(shè)備中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

1 特點(diǎn):                            
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1~105

2 主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 ε和D性能:

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測(cè)試。

2.1.2 ε和D測(cè)量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

2.1.3 ε和D測(cè)量精度(10kHz):ε:±2% ,  D:±5%±0.0001。

介質(zhì)材料測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電極,

能對(duì)直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。它針對(duì)不同試樣

可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和

非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

2.4.1 微分頭分辨率:10μm

2.4.2 最高耐壓:±42Vp(AC+DC)

2.4.3 電纜長(zhǎng)度設(shè)置:1m

2.4.4 最高使用頻率:30MHz 

B.自然頻率法(此法可獲得較準(zhǔn)確的結(jié)果) a.將被測(cè)線圈接在“Lx"接線柱上;

b.將微調(diào)電容器度盤調(diào)至零,調(diào)諧電容器度盤調(diào)到最大電容值C1; c.調(diào)訊號(hào)源頻率,使回路諧振,該頻率為f1;

d.取下被測(cè)線圈,換上一個(gè)能在調(diào)諧電容器調(diào)節(jié)范圍內(nèi)和十倍于f1頻率諧振的電感; e.訊號(hào)源調(diào)到10 f1位置,調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器到諧振點(diǎn);

f. 將被測(cè)線圈接在“Cx"兩端,調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器達(dá)諧振,此時(shí)視電容讀數(shù)是增加還是減小。若增加,則應(yīng)將振蕩器頻率調(diào)高些,若減小,則頻率調(diào)低些;

g. 再取下被測(cè)線圈,調(diào)節(jié)主調(diào)電容達(dá)到諧振;

h. 重復(fù)步驟“f"、“g"直到某一頻率,被測(cè)線圈接上“Cx"兩端和不接上均不改變諧振點(diǎn),這一頻率即為被測(cè)線圈的自然諧振頻率f2,它的C0數(shù)值為:


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