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國標(biāo)GBT1409介電常數(shù)試驗(yàn)儀電容測量：1~205 主電容調(diào)節(jié)范圍：18～220pF 準(zhǔn)確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明

薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)機(jī)電介質(zhì)在恒定電場作用下，介質(zhì)損耗的功率為 　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd 定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為 ω=σE2

薄膜介電常數(shù)測定儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

GB1409介電常數(shù)測試儀儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

點(diǎn)膠紙介電常數(shù)測試儀由于 頻 率 范圍的不同，實(shí)際上電橋構(gòu)造會(huì)有明顯的不同。例如一個(gè)50p F-10 00p F的電容在 50 Hz時(shí)的阻抗為60 Md2-3 Md2，在100 kHz時(shí)的阻抗為3 000 Q-1 500 S1 頻率 為 100k Hz時(shí)，橋的四個(gè)臂容易有相同數(shù)量級的阻抗，而在50H z-60H z的頻率范圍內(nèi)則是 不可能的。因此，出現(xiàn)了低頻和（相對）高頻兩種不同形式的電橋。