產(chǎn)品列表
—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 電阻測(cè)試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 拉力試驗(yàn)機(jī)
- 總有機(jī)碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 完整性測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
- 磨擦磨損試驗(yàn)機(jī)
- 耐電弧試驗(yàn)儀
- 門尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 垂直燃燒試驗(yàn)儀
- 熱老化試驗(yàn)箱
- 氧指數(shù)試驗(yàn)儀
- 泡沫落球回彈試驗(yàn)儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動(dòng)沖片機(jī)
- 啞鈴制樣機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 阿克隆摩擦試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 海綿落球回彈率測(cè)試儀
- 塑料球壓痕硬度計(jì)
- 毛細(xì)管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀
- 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
- 熔體流動(dòng)速率儀
- 平板硫化機(jī)
- 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 微量水分測(cè)定儀
- 制樣機(jī)
- 灼熱絲試驗(yàn)儀
- 疲勞沖擊測(cè)試儀
- 缺口制樣機(jī)
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗(yàn)箱
- 可塑性試驗(yàn)機(jī)
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
- 鼓風(fēng)干燥箱
- 邵氏硬度計(jì)
- 海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
高阻測(cè)量操作行為規(guī)范
點(diǎn)擊次數(shù)：756 發(fā)布時(shí)間：2023-01-05
大家在用高阻測(cè)量的時(shí)候，因?yàn)椴僮鞑划?dāng)會(huì)損害儀器的壽命，下面我來為大家介紹下行為規(guī)范：
高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人
| １、 應(yīng)在“Ｒｘ"兩端開路時(shí)調(diào)零 如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。 | ２、 禁止將“Ｒｘ"兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊 |
| ３、 在測(cè)試過程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓， 隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器，而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。 | ４、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔 每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1"時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過電流保護(hù)電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔! |
| ５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化 由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。 | ６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分 本儀表有二連根線：高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。 |
| ７ 、測(cè)試過程中不能觸摸微電流測(cè)試端 微電流測(cè)試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機(jī)后和測(cè)試過程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。 | ８、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽． 在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 |
| ９、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開關(guān)撥回“１０４ "檔再進(jìn)行下次測(cè)試 在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開關(guān)撥到高阻檔，測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開關(guān)撥回低檔。以確保下次開機(jī)時(shí)量程開關(guān)處在低阻量程檔。 |
