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四探針方阻儀①檢查電源線是否接觸良好； ②檢查后面板上的電源開關是否已經打開 ③檢查保險絲是否熔斷，如有必要，請更換保險絲 如經上述檢查無誤后，測試儀仍未正常啟動，請聯(lián)系本公司進行解決。

薄膜四探針測定儀GB/T14141-2009硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定直排四探針法標配:測試平臺一套、主機一套 電源線數(shù)據(jù)線一套。

雙電測試四探針電阻率測試儀用于測試電阻、電導率等電學參數(shù)的儀器。它的工作原理是利用四個探針分別接觸被測物體的四個點，形成一個閉合電路，通過測量電流和電壓的變化來計算出被測物體的電學參數(shù)。

金屬膜四探針方阻電阻率檢測儀生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；

高量程體積表面積電阻率測試儀中心為圓柱體,直徑為50mm, 標準中沒有規(guī)定高度，但一般是40mm圓柱體外為一圓環(huán),圓環(huán)內徑為60mm,外徑為80mm, 標準中沒有規(guī)定高度，但一般是40mm