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四探針導(dǎo)電電阻測試儀
簡要描述：四探針導(dǎo)電電阻測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
更新時間：2024-07-14
產(chǎn)品型號：BEST-300C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：855
| 品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 類型 | 接地電阻測量儀表 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材 |
四探針導(dǎo)電電阻測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5～2×105ω/□ | 10-4～2×105ω/□ | 10-3～2×105ω/□ | 10-3～2×104ω /□ | 10-2～2×105ω/□ | 10-2～2×104ω/□ |
2.電阻率resistivity | 10-6～2×106ω-cm | 10-5～2×106ω-cm | 10-4～2×106ω-cm | 10-4～2×105ω-cm | 10-3～2×106ω-cm | 10-3～2×106ω-cm |
3.測試電流test current | 0.1μa.μa.0μa，100μa，1ma，10ma，100ma | 1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma | 0.1μa.μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100 ma | 1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma | 0.1μa、1μa、10μa，100μa，1ma，10ma，100ma | 1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma |
4.電流精度current | ±0.1% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy |
5.電阻精度resistance | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率 | |||||
7.測試方式 | test mode雙電測量double electrical measurement | |||||
8.電源power | 輸入: ac 220v±10%.50hz功耗 lt;30w | |||||
9.誤差errors | ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） | |||||
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |||||
11.測試探頭test | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 | |||||
四探針導(dǎo)電電阻測試儀溫馨提示：半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過四探針法來測試，四探針測試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測試儀測到-6次方；高阻四探針測試儀測到7次方至9次方；，雙電測四探針測試儀測到-5次方到5次方，單電測四探針測試儀-5次方到5次方。
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