自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

■ 四探針：一次測(cè)量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿(mǎn)足寬范圍的電阻率測(cè)試要求

■電阻率測(cè)量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測(cè)量：本儀器采用*芯片技術(shù)，可通過(guò)調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測(cè)量使用更加簡(jiǎn)便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測(cè)試平臺(tái)， 利用測(cè)試平臺(tái)可以測(cè)試薄片電阻率

適用范圍

四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

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提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿(mǎn)足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶(hù)需求

電阻測(cè)量范圍： 
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線(xiàn)數(shù)據(jù)線(xiàn)一套。

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自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀步驟及流程

　　1. 開(kāi)啟電源，預(yù)熱5分鐘.

　　2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).

　　3. 設(shè)定所需參數(shù).

　　4. 測(cè)量樣品

　　5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

　　優(yōu)點(diǎn)描述：

　　1. 自動(dòng)量程

　　2. 雙電組合測(cè)試方法

　　3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

　　4. pc軟件運(yùn)行

　　5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

　　6. 可顯示5位有效數(shù)字.

　　7. 中、英文界面

量程劃分及誤差等級(jí)

一般目前的四探針電阻率（電導(dǎo)率）測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過(guò)厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，zui常用的是直線(xiàn)型四探針。四根探針的針尖在同一直線(xiàn)上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正?？梢詼y(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱(chēng)方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

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