自動四探針電阻率測試儀產(chǎn)品特點：

■ 四探針：一次測量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求

■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測量：本儀器采用*芯片技術(shù)，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率

適用范圍

四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導率單位自動選擇，BEST-300C 材料電導率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

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提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求

電阻測量范圍： 
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標配：測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

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自動四探針電阻率測試儀步驟及流程

　　1. 開啟電源，預(yù)熱5分鐘.

　　2. 裝配好探頭和測試平臺.

　　3. 設(shè)定所需參數(shù).

　　4. 測量樣品

　　5. 導出數(shù)據(jù).

　　優(yōu)點描述：

　　1. 自動量程

　　2. 雙電組合測試方法

　　3. 標準電阻校準儀器

　　4. pc軟件運行

　　5. 同時顯示電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù).

　　6. 可顯示5位有效數(shù)字.

　　7. 中、英文界面

量程劃分及誤差等級

一般目前的四探針電阻率（電導率）測試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數(shù)值的設(shè)置，計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，zui常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對測量結(jié)果做相應(yīng)的校正。可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

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