抗靜電纖維增強(qiáng)塑料電阻率試驗(yàn)儀絕緣材料的D-C電阻或電導(dǎo)用于確定絕緣材料的d-c電阻或電導(dǎo)率的測(cè)試在ASTM D 257(IEC 60167)的《絕緣材料的D-C電阻或電導(dǎo)率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法》中進(jìn)行了描述。

抗靜電纖維增強(qiáng)塑料電阻率試驗(yàn)儀

符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1232《未硫化橡膠門(mén)尼粘度的測(cè)定》、GB/T1233《橡膠膠料初期硫化特性的測(cè)定 門(mén)尼粘度計(jì)法》及ISO289、ISO667等標(biāo)準(zhǔn)的要求。

B點(diǎn);一般情況下，經(jīng)過(guò)4 min 到達(dá)B 點(diǎn)（醉低點(diǎn)）.即為所求門(mén)尼粘度值。如果繼續(xù)試驗(yàn)下去有兩種現(xiàn)象發(fā)生;若試樣為生膠，達(dá)到醉低值后曲線(xiàn)趨于平坦;若試樣為混煉膠曲線(xiàn)則會(huì)上升， 由于膠料發(fā)生交聯(lián)所致。

也可使用與轉(zhuǎn)子溝槽相同的模腔，兩種模腔可能會(huì)得出不同的試驗(yàn)結(jié)果。

為了檢查試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)溫度情況，可將兩個(gè)熱電偶測(cè)量探頭插入試樣中。轉(zhuǎn)子運(yùn)轉(zhuǎn) 3.5 min時(shí)立即將兩個(gè)探頭插入，4 min時(shí)讀出兩個(gè)溫度的平均數(shù)。其平均數(shù)與兩個(gè)試驗(yàn)溫度偏差應(yīng)在 0 ℃~-1.0 ℃之間.

在100 ℃試驗(yàn)溫度下經(jīng)過(guò)1min預(yù)熱后，蝸輪、蝸桿在電機(jī)帶動(dòng)下開(kāi)始轉(zhuǎn)動(dòng)，轉(zhuǎn)子（直徑38.10 mm、厚 5.54 mm、轉(zhuǎn)速2 r/min.）隨之開(kāi)始轉(zhuǎn)動(dòng).轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)將引起模腔內(nèi)試樣的剪切變形 同時(shí)轉(zhuǎn)子本身也受到橡膠試樣的反抗剪切力矩，此力矩通過(guò)蝸桿傳遞至彈簧板。 根據(jù)彈簧板變形量的大小， 在百分表上顯示出來(lái)， 因此百分表上的數(shù)值既是彈簧板變形量的大小，又是轉(zhuǎn)子對(duì)膠料剪切的扭轉(zhuǎn)力矩。每0.C83 N"m（0.846 kg' cm）轉(zhuǎn)動(dòng)力矩是一個(gè)門(mén)尼粘度值，百分表上有 100 格即100門(mén)尼粘度=8.30Nm（84.6 kg"cm）同時(shí)彈簧的形變量還可以通過(guò)差動(dòng)變壓器（一種位移傳感元件）進(jìn)行記錄。當(dāng)彈簧發(fā)生變形 變形所產(chǎn)生的位移經(jīng)差動(dòng)變壓器變成電訊號(hào)被放大后用自動(dòng)記錄儀記錄下來(lái)， 試驗(yàn)完成。

試樣應(yīng)按 GB/T 294 規(guī)定在試驗(yàn)溫度下停放至少30min并在 24小時(shí)內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn).

各粘度計(jì)在試樣中的溫度梯度和熱傳導(dǎo)速度各不相同，特別是使用不同的加熱方法更是如此。所以使用不同粘度計(jì)時(shí)試驗(yàn)期間試樣達(dá)到相同溫度之后才有可比性。通常在關(guān)閉模腔之后大約10 min 才能達(dá)到這一條件。

本試驗(yàn)需要注意的幾個(gè)問(wèn)題

我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)此次在這一條款上采用了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，但據(jù)調(diào)查，國(guó)際上門(mén)尼機(jī)尚未配置這種插入模腔的熱電偶測(cè)量探極。標(biāo)準(zhǔn)起草人和審查會(huì)成員認(rèn)為∶盡管我們的門(mén)尼機(jī)尚未達(dá)到這一技術(shù)水平，但標(biāo)準(zhǔn)先行是國(guó)際上經(jīng)常采用的方法試驗(yàn)方法的先行將促進(jìn)儀器標(biāo)準(zhǔn)的修訂，并提高儀器技術(shù)水平.                

模腔為了有良好的熱傳導(dǎo)，每個(gè)模體醉好只用一塊鋼板制成。

技術(shù)參數(shù)： 

橡膠的粘度與塑性密切相關(guān)。粘度高說(shuō)明橡膠的分子量大，塑性小;反之則說(shuō)明橡膠分子量小，塑性大，所以通過(guò)測(cè)定粘度值可反映出橡膠的塑性值。

A 點(diǎn)∶試驗(yàn)剛開(kāi)始時(shí)，由于橡膠試樣溫度比較低，粘度值較高。另外，在配有炭黑的膠料中，炭黑粒子在靜止時(shí)結(jié)合成網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)阻止了膠料的流動(dòng)，但不牢固， 受力后很快被破壞 即所謂的觸變效應(yīng)，也是造成初始粘度值高的原因之一。

試驗(yàn)中一般使用大轉(zhuǎn)子， 但試樣的粘度較高時(shí)，允許使用小轉(zhuǎn)子。兩種轉(zhuǎn)子所得的試驗(yàn)結(jié)果是不相同的，但是在比較橡膠性能時(shí)，卻能得出相同的結(jié)論.

模體閉合系統(tǒng)可用液壓、氣動(dòng)或機(jī)械方法來(lái)關(guān)閉并保持模腔閉合。在試驗(yàn)期間模腔應(yīng)保持 11.5 kN±0.5 kN的壓力。

儀器校正轉(zhuǎn)矩的測(cè)量裝置和校準(zhǔn)

試驗(yàn)結(jié)果表示一股試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)按如下形式表示∶

轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)所需轉(zhuǎn)矩記錄或指示在線(xiàn)形刻度盤(pán)上，以門(mén)尼粘度值為表示單位。當(dāng)轉(zhuǎn)子空載運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)讀數(shù)為零，對(duì)轉(zhuǎn)子施加8.30 N'm±0.02 N'm轉(zhuǎn)矩時(shí)讀數(shù)為100±0.5.因此0.083N"m轉(zhuǎn)矩相當(dāng)于一個(gè)門(mén)尼值單位。當(dāng)關(guān)閉模腔轉(zhuǎn)子空載運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，與零點(diǎn)的誤差應(yīng)小于±0.5個(gè)門(mén)尼單位。

采用進(jìn)口智能數(shù)字式溫控儀表，調(diào)整設(shè)定簡(jiǎn)便，控溫范圍寬。

電源：220V±10% 50Hz 

該溫度是通過(guò)插入模腔的兩個(gè)熱電偶測(cè)量探極來(lái)測(cè)量的，熱電偶測(cè)量探極和溫度傳感器的指導(dǎo)溫度應(yīng)精確到±0.25 ℃，如圖6所示。

轉(zhuǎn)子有大轉(zhuǎn)子和小轉(zhuǎn)子兩種。大轉(zhuǎn)子應(yīng)有 75個(gè)重直溝槽， 小轉(zhuǎn)子應(yīng)有60個(gè)垂直溝槽.轉(zhuǎn)子與轉(zhuǎn)子桿垂直固定，轉(zhuǎn)子桿直徑為 10 mm±1mm 其長(zhǎng)度應(yīng)使模腔在閉合時(shí)轉(zhuǎn)子上面的間隙與下面的間隙相差不超過(guò)0.25 mm.轉(zhuǎn)子桿與下?？组g隙應(yīng)足夠小 以防止橡膠流出模腔，在該處可使用O 型圈或其他裝置使其密封。

門(mén)尼粘度計(jì)應(yīng)符合ZBN 72024-89 的各項(xiàng)規(guī)定，它由轉(zhuǎn)子、模腔、溫度控制系統(tǒng)和轉(zhuǎn)矩測(cè)量系統(tǒng)組成，儀器主要結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖3主要尺寸見(jiàn)表1                        

試驗(yàn)儀器門(mén)尼粘度計(jì)屬轉(zhuǎn)動(dòng)型粘度計(jì)， 是根據(jù)流體力學(xué)原理設(shè)計(jì)而成，如圖2?，F(xiàn)以L(fǎng)（1+4）100 ℃為例，對(duì)其測(cè)試原理作簡(jiǎn)單介紹∶               

轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)速：2±0.02r/min 

將直徑為0.45mm 容易彎曲的金屬絲的一端固定在校準(zhǔn)轉(zhuǎn)子上，另一端連接校準(zhǔn)砝碼使刻度盤(pán)上讀數(shù)校準(zhǔn)至100。在校準(zhǔn)期間，轉(zhuǎn)子以 0.209 nM/s速度運(yùn)轉(zhuǎn)，并且模腔內(nèi)應(yīng)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度。

微機(jī)采用進(jìn)口芯片，可靠性高，全部數(shù)據(jù)可自動(dòng)繪圖計(jì)算、打印。 

當(dāng)試樣粘度較高時(shí)關(guān)閉模腔需要更大壓力，但至少在轉(zhuǎn)子啟動(dòng)壓力應(yīng)降到 11.5 kN士 0.5 kN，并在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中保持此壓力。

測(cè)試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%

GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針?lè)?/p>

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)?/p>

電流測(cè)量范圍為2×10-4A ～1×10-16A

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀工作原理

1014以上 0.01～19.99 10-15%+5字

109 0.01～19.99 5%

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃ 相對(duì)濕度<90%。104 0.01~19.99 5%

BEST380型數(shù)字高阻計(jì)是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，

準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表

超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加，測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同，測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%

材料體積電阻(率)和表面電阻(率)測(cè)量；

微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

1010    0.01～19.99 5%+2字

應(yīng)用范圍 ：

107 0.01～19.99 5%

根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線(xiàn)性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個(gè)刻度是非線(xiàn)性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

1014 0.01～19.99 10%+5字

體積電阻率和表面電阻率測(cè)試儀儀器其它可選配件：注：本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料不（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率，*符合或優(yōu)于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－89固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法　等標(biāo)準(zhǔn)要求。

106 0.01～19.99 5%

電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十個(gè)量程。

量程 有效顯示范圍 20～30℃ RH<80%

本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿(mǎn)足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶(hù)需求

本儀器具有精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防樹(shù)脂云母體積表面電阻率測(cè)試儀靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量電流如電子器件暗電流等

GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針?lè)?/p>

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，四探針?lè)ㄉ婕暗桨虢饘倥c半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。

10110.01～19.99 5%+2字

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)?/p>

1013 0.01～19.99 10%+5字

電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;

然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，

1012 0.01～19.99 5%+5字

105 0.01～19.99 5%

全數(shù)字液晶屏顯示。

GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針?lè)?/p>

本儀器可提供中國(guó)*校準(zhǔn)鑒定證書(shū)